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Die Rasterelektronenmikroskopie ist ein zentrales Analyseverfahren in den Geowissenschaften zur hochauflösenden Untersuchung von Festkörpern. Sie ermöglicht detaillierte Einblicke in Oberflächenstruktur, Gefüge, Mikrostruktur und Textur bis in den Nanometerbereich. In Kombination mit energiedispersiver Röntgenspektroskopie (EDX), erlaubt das REM zudem eine qualitative und semi-quantitative chemische Charakterisierung von Mineralphasen und mittels Rückstreuelektronenbeugung (EBSD) können Kristallorientierungen analysiert werden. Kathodolumineszenz (CL) erlaubt höchstaufgelöste Bildgebung von Spurenelementverteilung und Defektstruktur. Das Verfahren findet Anwendung in Forschung und Lehre, unter anderem in der Strukturgeologie, Petrologie, Mineralogie, Sedimentologie und Materialcharakterisierung.